Rosnąca popularność elektryfikacji pojazdów, wdrożenie nowych technologii i chęć stałego zwiększania wydajności odbijają się w coraz bardziej wyśrubowanych wymaganiach dotyczących jakości i niezawodności stawianym przez producentów OEM i dostawców Tier 1 firmom zajmującym się produkcją komponentów półprzewodnikowych. Na etapie projektowania modułów elektroniki mocy dane dotyczące wydajności cieplnej i niezawodności są istotne z punktu widzenia procesów rozwoju i weryfikacji. W trakcie wytwarzania producenci końcowi pojazdów często wymagają od swoich dostawców danych testowych dotyczących całych partii komponentów lub nawet pojedynczych modułów.
Niniejszy webinar wytłumaczy, w jaki sposób sprzęt testowy może dokładnie zmierzyć charakterystykę cieplną komponentów energoelektronicznych i zwiększyć wiarygodność symulacji cieplnej na etapie rozwoju modułów elektronicznych. Dowiesz się również, jak zdefiniować i przeprowadzić testy cyklów zasilania, aby ocenić niezawodność termiczną i prognozować żywotność komponentów. Prezentacja omówi testy termiczne krzemowych tranzystorów IGBT i modułów półprzewodnikowych MOSFET z węglikiem krzemu, sprofilowane testy połączone z diagnostyką awarii i ocenę wykorzystania testów temperatury przejściowej do oceny jakości i obniżenia kosztów związanych z naprawami gwarancyjnymi.
Poruszane tematy:
- Jak zastosować metodę testów elektrycznych JEDEC JESD 51-1 do wyznaczenia charakterystyki cieplnej?
- Jak funkcje struktury wspierają projektowanie cieplne, symulację, diagnostykę awarii i identyfikację defektów?
- Prognoza niezawodności i żywotności z wykorzystaniem testów cyklów zasilania
Prelegent:
Andras Vass-Varnai, Global Business Development Manager, Simcenter Thermal Test Solutions (dawniej sprzęt MicReD)