온디맨드 웨비나

AI를 사용하여 전자제조의 전반적인 OEE(장비 효율성) 개선 및 품질 비용 절감

공유

머신 러닝 및 AI를 사용하여 품질 검사 프로세스 속도 저하 방지

품질 검사는 모든 제조 프로세스에서 필수 단계입니다. 이러한 검사를 통해 제품이 필요한 표준을 충족하고 고객에게 고품질 제품을 제공할 수 있는지 확인합니다. 그러나 품질 검사로 인해 생산 중에 병목 현상이 발생하여 전체 프로세스가 둔화되고 비용이 증가할 수도 있습니다.

PCB(인쇄 회로 기판)에 대한 자동 및 수동 육안 검사도 예외는 아닙니다. FPY(초기 수율)와 과검 및 이탈의 위험 사이에서 최적의 균형을 찾는 것은 어려운 작업입니다.

본 웨비나에서 Siemens가 머신 러닝 및 폐루프 AI(인공 지능)를 제품화하여 공장에서 이 문제를 효율적으로 해결하는 방법을 알아보십시오.

머신 러닝 및 AI를 사용하여 전자제조의 품질 검사 최적화

생산 중 검사로 인한 병목 현상을 제거하고 웨비나에서 다음에 대해 알아보십시오.

  • PCB 생산에서 품질 검사의 과제
  • 품질 검사에서 머신 러닝 및 AI 사용의 이점
  • Siemens가 머신 러닝 및 폐루프 AI를 제품화하여 품질 검사 문제를 해결하는 방법

발표자 소개

Siemens Digital Industries Software

Jonathan Fromm

Product Manager, Predictive Analytics

Jonathan은 고급 분석 및 실행 가능한 인사이트 제공에 대한 광범위한 배경 지식을 보유하고 있습니다.

관련 자료