On-Demand-Webinar

Einsatz von KI zur Verbesserung der Gesamtanlageneffektivität (Overall Equipment Effectiveness, OEE) und zur Senkung der Qualitätskosten in der Elektronikfertigung

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Verhindern Sie Verlangsamungen des Qualitätsprüfungsprozesses durch den Einsatz von maschinellem Lernen und KI

Qualitätskontrollen sind ein wesentlicher Bestandteil eines jeden Fertigungsprozesses. Diese Inspektionen stellen sicher, dass die Produkte den erforderlichen Standards entsprechen und die Kunden hochwertige Waren erhalten. Qualitätsprüfungen können aber auch zu Engpässen in der Produktion führen, die den gesamten Prozess verlangsamen und die Kosten erhöhen.

Automatisierte und manuelle Sichtprüfungen von Leiterplatten (PCBs) bilden da keine Ausnahme. Die optimale Balance zwischen First Pass Yield (FPY) und dem Risiko von Pseudofehlern und sogar echten Fehlern zu finden, ist eine Herausforderung.

Nehmen Sie an einem Webinar teil, um zu erfahren, wie Siemens maschinelles Lernen und künstliche Intelligenz (KI) einsetzt, um diese Herausforderung in unseren Fabriken elegant zu lösen.

Einsatz von maschinellem Lernen und KI zur Optimierung von Qualitätsprüfungen in der Elektronikfertigung

Verabschieden Sie sich von Prüfungsengpässen in der Produktion. In diesem Webinar erfahren Sie mehr über folgende Themen:

  • Herausforderungen bei Qualitätsprüfungen in der Leiterplattenproduktion
  • Die Vorteile des Einsatzes von maschinellem Lernen und KI bei Qualitätsprüfungen
  • Wie Siemens maschinelles Lernen und KI im geschlossenen Kreislauf nutzt, um Herausforderungen bei der Qualitätsprüfung zu lösen

Vorstellung des Referenten

Siemens Digital Industries Software

Jonathan Fromm

Product Manager, Predictive Analytics

Jonathan verfügt über einen umfangreichen Hintergrund in Advanced Analytics und der Bereitstellung verwertbarer Erkenntnisse.

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